測厚儀:測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
測厚儀分為兩大類,一種是接觸式測厚儀,另一種是非接觸式測厚儀。接觸式測厚儀按接觸面積大小來劃分又可以分為點接觸式測厚儀、面接觸時測厚儀;非接觸式測厚儀根據其測試原理不同,又可分為以下幾種:激光測厚儀、超聲波測厚儀、涂層測厚儀、X射線測厚儀、白光干涉測厚儀、電解式測厚儀。,可以參考測厚儀的資料,
測量注意事項:
⒈在(zai)進(jin)行測試的時候要注意標準片集體的金屬(shu)磁(ci)性(xing)和表面(mian)粗糙度應當與(yu)試件相似。
⒉測(ce)量時側頭(tou)與試樣表面保持垂直。
⒊測量(liang)時要(yao)注意基體金屬(shu)的臨界厚(hou)度,如果大(da)于這(zhe)個厚(hou)度測量(liang)就不受基體金屬(shu)厚(hou)度的影響。
⒋測量時要注(zhu)意(yi)試件的(de)曲率對測量的(de)影響。因(yin)此在彎曲的(de)試件表面上測量時不可靠的(de)。
⒌測量前(qian)要注意周圍其他的電器設(she)備會(hui)不會(hui)產生磁(ci)場,如果會(hui)將會(hui)干擾磁(ci)性測厚法。
⒍測(ce)量時要(yao)注意不要(yao)在內轉角處(chu)和靠(kao)近試件邊緣(yuan)處(chu)測(ce)量,因為(wei)一般的測(ce)厚儀試件表面形狀的忽(hu)然(ran)變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力(li)的恒定,否則(ze)會影響測量的讀數。
⒏在進行(xing)測試(shi)的時候要(yao)注(zhu)意儀(yi)(yi)器測頭(tou)和被(bei)測試(shi)件(jian)的要(yao)直(zhi)接接觸,因此超聲波測厚儀(yi)(yi)在進行(xing)對(dui)側頭(tou)清除附著(zhu)物質。