時代覆層測(ce)厚儀個性化傳(chuan)感器
測頭型號 F400 F1 F1/90° F10 N1 CN02 工(gong)作(zuo)原(yuan)理 磁(ci) 感 應 渦 流 測(ce)量范圍(wei)(mm) 0~400 0~1250 0~1250 0~10000 0~1250(銅(tong)上鍍鉻0~40) 10~200 低限分辨力(mm) 0.1 0.1 0.1 10 0.1 1 示(shi)值 一(yi)點(dian)校準(mm) ±(3%H+1) ±(3%H+1) ±(3%H+10) ±(3%H+1.5) ±(3%H+1) 誤差(cha) 二點(dian)校(xiao)準(mm) ±((1~3)%H+0.7) ±((1~3)%H+1) ±((1~3)%H+1) ±((1~3)%H+10) ±[(1~3)%H+1.5] 測試條件 最(zui)小曲率(lv)半徑(mm) 凸 1 1.5 平直 10 3 僅為平(ping)直 最小(xiao)面積的直徑(mm) F3 F7 F7 F40 F5 F7 基(ji)體臨界厚度(mm) 0.2 0.5 0.5 2 0.3 無限制
測頭型號
F400
F1
F1/90°
F10
N1
CN02
工(gong)作(zuo)原(yuan)理
磁(ci) 感 應
渦 流
測(ce)量范圍(wei)(mm)
0~400
0~1250
0~10000
0~1250(銅(tong)上鍍鉻0~40)
10~200
低限分辨力(mm)
0.1
10
1
示(shi)值
一(yi)點(dian)校準(mm)
±(3%H+1)
±(3%H+10)
±(3%H+1.5)
誤差(cha)
二點(dian)校(xiao)準(mm)
±((1~3)%H+0.7)
±((1~3)%H+1)
±((1~3)%H+10)
±[(1~3)%H+1.5]
測試條件
最(zui)小曲率(lv)半徑(mm)
凸
1.5
平直
3
僅為平(ping)直
最小(xiao)面積的直徑(mm)
F3
F7
F40
F5
基(ji)體臨界厚度(mm)
0.2
0.5
2
0.3
無限制
測頭選用參考表:
覆蓋(gai)層
基體
有(you)機(ji)材料等非磁性覆蓋層(ceng)(如漆(qi)(qi)料、涂漆(qi)(qi)、琺瑯、搪瓷、塑料和(he)陽極化處(chu)理等)
非磁性的有色金屬的覆層(如鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
覆蓋層(ceng)厚度不超過100μm
覆蓋層厚度超過100μm
覆蓋層厚(hou)度不超過100μm
覆蓋層(ceng)厚(hou)度(du)超過100μm
如鐵、鋼等磁性金屬
被測面(mian)積的直徑(jing)大(da)于(yu)30mm
F1型測頭0-1250μmF400型測頭0-400μm
F1型測頭0-1250μmF10型測頭0-10mm
F400型測頭0-400μmF1型測頭0-1250μm
被測面積的直徑小于30mm
F400型(xing)測頭0-400μm
F400型測頭0-400μm
如銅(tong)、黃(huang)銅(tong)、鋁(lv)、鋅(xin)、錫等(deng)有色金屬
被(bei)測面(mian)積的直徑大于5mm
N1型測頭0-1250μm
N1型(xing)測頭只能測銅上鍍鉻(ge)0-40μm
塑料、印刷線路板等非(fei)金屬基(ji)體
被測面積的直徑小(xiao)于7mm
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CN02型測頭10-200μm(主要用途測銅箔厚度)